Grondmaterialen voor glas en glas

Onze diensten

• Bepaling van de hoofd- en sporenelementen in glas en materialen op basis van glas volgens DIN EN ISO 12677, DIN 51001, screeningsanalyse van speciale glazuren van exotische zaden op maximaal 71 elementen Bepaling van de carcinogeniteitsindex CI in oude minerale wol, röntgenmicroanalyse, EDX van insluitsels, onzuiverheden

Soorten Onderzoek voor de analyse van glas- en glasgrondstoffen

• MeetProgrammes voor röntgenfluorescentieanalyse van vuurvaste grondstoffen en materialen uit een smeltende vertering van poeder, compacte screeningsanalyse op maximaal 71 elementen, aanvullende onderzoeken Bepaling van bulkdentheids- en porositeitsanalyse van koolstof - TC, TOC, TIC, X-ray microanalyse, EDX voor de identificatie van insels Zuiversluitheden

! Laat op!

Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).

De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de Prijslijst XRF algemene voorwaarden.

Hart van XRF, röntgenfluorescentieanalyse

• Geaccrediteerde testprocedures volgens nationale en internationale normen, kosteneffectieve analyse; Korte Werkstukken in het laboratorium, hoge precisie, van analyses, locatiedetectiegrenzen tot 71 items in één Meetpas

Kwantitatieve XRF van één orodispergeerbare tablet op 12, 16, 20, 30 of 40 elementen volgens DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19. Voor de analyse van geoxiden en geoxiden, monsters van verschillende zaden, zoals glas- en glasvezels, bodems, rot, mineralen, mineralen, keramiek, minerale of mineraalgebonden bouwmaterialen, enz. Bij dit proces wordt het monstermateriaal met een flux (lithiumtetraboraat) geplatteerd, gesmolten tot een oxiderende atmosfeer, gebleekt tot een homogene glastablet en zo met grote precisie geanalyseerd.

! Laat op!

Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).

De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de Prijslijst XRF algemene voorwaarden.

Speciaal voor milieurante monsters zoals verontreinigde of onverontreinigde bodems, Zuiveringsslib, Afvalverbrandingsresten, maar ook reapleister, vlooiengas en andere materialen. Vanwege de aard van het preparaat kunnen textuur- en correlgrootteeffecten leiden tot een misvatting van de kleine hoofdelementen met ordinale getallen tot 15. Voor de beoordeling van grondstoffen moeten ten minste de elementen van Na tot Si worden onderzocht naast een smeltvertering.

Het programma met 27 elementen is met name geschkt voor vraagstukken die Elemente Vereisen Volgens Laga, de Kloke-lijst, de verordening inzake afvalzuiveringsslib van de EG-richtlijnen. Een groot aantal andere elementen is waar uit de milieutoxicologie, die niet is opgenomen in de lijsten van Grenswaarden, indicatieve en oriëntatiewaarden. In Geval van Verdenking van een dergelijke verontreiniging of bij het creëren van Landkadasters wordt het gebruik van uitgebreide meetprogramma's met 40 van de 50 elementen.

Voor deze vragen wordt een zachte behandeling van het materiaal uitgevoerd: het monster wordt gedroogd bij 40°C in de circulerende lucht droogkamer, zodat er geen vaporiezen ontstaan, bijvoorbeeld door vluchtige metalen of metaalorganische Kwikverbingen en — India dit nog niet voor de levering is — In een maling van agaatmolen.

! Laat op!

Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).

De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de Prijslijst XRF algemene voorwaarden.

Het Fundamental Parameter Program Omnian wordt gebruikt voor matrix-onafhankelijke, kwantitatieve, semi-kwalitatieve of kwalitatieve XRF van onbekende monsters van diverse materiaaleigenschappen en samstellingen (anorganisch en organisch). Het monstermateriaal kan in voorbereide vorm of met een schikte samenstelling worden bereid (röntgen- en vacuümbestendig!) In oppervlaktetextuur is onvoorbereid en niet-destructief geanalyseerd, aangezien elementaire concentraties tussen detectielimieten, met een gewicht van 250 µg/g en 100%, kunnen worden gebruikt.

! Laat op!

Om een gestandaardiseerde analyse uit te voeren, hebben we analytisch fijn (< 63 µm) en gedroogd (105 °C) monstermateriaal nodig, evenals de waarde van het gloeiverlies (LOI).

De bepaling van het slijpen, drogen en gloeiverlies wordt, indien nodig of niet gespecificeerd, uitgevoerd volgens de eisen van de Prijslijst XRF algemene voorwaarden.

Normen en richtlijnen voor röntgenfluorescentieanalyse van glas en glazen basismaterialen

• DIN EN ISO 12677:2013-02 - Chemische analyse van vluchtige producten door middel van röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Smeltprocessen DIN EN ISO 26845:2008-06 - Chemische analyse van waardevolle producten - Algemene ijzer voor natte chemische analyse, atomaire absorptiespectrometrie (AAS) methoden, atomaire emissiespectrometrie Geëxciteerd door een inductief gekoppeld plasma (ICP-AES) DIN EN 15309:2007-08 - Karakterisering van afval en bodem - van elementaire zaden door middel van röntgenfluorescentieanalyse DIN 51001:2003-08 - Beproeving van oxidische grondstoffen en -materialen - Algemeen werkingsprincipes voor röntgenfluorescentieanalyse (XRF) DIN 51001 Supplement 1:2010-05 - Testen van oxidische substraten en materialen - Algemene werkingsprincipes voor röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Overzicht van stofgroepen gebaseerde verteringsmethoden voor de productie van monsters voor de XRF DIN 51081:2002-12 - Testen van oxidische substraten en materialen - Behandeling van masserende veranderingen tijdens het gloeien DIN 51418-1:2008 -08 - Röntgenfoto spectrale analyse - Röntgenemissie- en röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Deel 1: Algemene Voorwaarden en basisbeginselen DIN 51418-2:2015 -03 - Röntgenspectrale analyse - Röntgenemissie- en röntgenfluorescentieanalyse (XRF) - Deel 2: Termen en basisprincipes voor meting, kalibratie en evaluatie